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    應(yīng)力雙折射儀

    應(yīng)力雙折射儀

    簡要描述:◆ 單色光波長: λ=589.44nm
    ◆ 光程差測定范圍 : ± 590 nm
    ◆ 度盤格值:     5nm
    ◆ Z小讀數(shù)(1/5估讀): 1nm
    ◆ 儀器零位誤差 ±2nm

    產(chǎn)品型號(hào): WYL-4

    所屬分類:折射儀

    更新時(shí)間:2024-12-06

    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

    詳情介紹

    WYL-4應(yīng)力雙折射儀特點(diǎn):

    透明物體由于不均勻冷卻或其他如受機(jī)械作用等原因,其內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力,引起雙折射。晶體物質(zhì)本身具有雙折射的光學(xué)特征。WYL-4應(yīng)力雙折射儀采用偏振光電矢量合成及光學(xué)補(bǔ)償原理,通過對(duì)樣品的光程差的定量測定,確定樣品應(yīng)力雙折射的大小。本儀器能精確測定光學(xué)波片的光程差、確定光學(xué)玻璃的應(yīng)力級(jí)別,是光學(xué)儀器制造業(yè)*的儀器。也是研究晶體礦物質(zhì)的重要工具。它不僅在工業(yè)生產(chǎn)中得到廣泛應(yīng)用,而且在國防、建材、地質(zhì)礦產(chǎn)、材料科學(xué)方面也占有重要地位。同時(shí),本儀器也是各大專院校特別理想的教學(xué)實(shí)驗(yàn)設(shè)備。
    ● 直讀納米級(jí)光程差,無須計(jì)算
    ● 雙分視場零位檢測,靈敏度高
    ● 樣品工作臺(tái)45度自動(dòng)定位
    ● 體積小巧,結(jié)構(gòu)緊揍
    ● 操作方便,可靠實(shí)

    WYL-4技術(shù)參數(shù):
    ◆ 單色光波長:            λ=589.44nm
    ◆ 光程差測定范圍 :      ± 590 nm
    ◆ 度盤格值:         5nm
    ◆ zui小讀數(shù)(1/5估讀):     1nm        
    ◆ 儀器零位誤差           ±2nm    
    ◆ 波片讀數(shù)重復(fù)性         1nm
    ◆ 被檢樣品zui大尺寸:     寬度440mm;長度440mm;高度240 mm
    ◆ 光源:                 220V 20W低壓鈉燈
    ◆ 儀器外形尺寸:         長413mm  寬250mm  高400mm



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